Помощь с микроскопом

[avor]

--В сканере как раз автоматизировано движение сенсора и объекты зафиксированы в плоскости, т.е. аберрации сведены к минимуму.
Там все равно линза стоит перед ПЗС линейкой.

[avor]

--Физическое разрешение 2400 -- это стандарт ещё в нулевые годы. А для обнаружения дефекта размером 0,09 мм (0.0035") вполне хватит и разрешения 1200. Тогда и за 10 мин. формат А4 он отсканирует.

Смотря с какой точность вам это надо делать. Если надо 100% отличать дефект ,09мм от 0,08мм то не хватит и 4800 а если с вероятность процентов 70-80, то наверное прокатит и 1200.

[chaus]

Смотря с какой точность вам это надо делать. Если надо 100% отличать дефект ,09мм от 0,08мм то не хватит и 4800 а если с вероятность процентов 70-80, то наверное прокатит и 1200.

Я так понял, что им надо отличать "есть -- нет".

[avor]

Ну вот он буде 0,08 принимать за ,09 в 30-40 случаев

[chaus]

Ну вот он буде 0,08 принимать за ,09 в 30-40 случаев

Думаю, гораздо чаще. Если взять аппаратное разрешение 1200 ppi, то дефект размером 0.09 мм будет иметь размер на изображении примерно 3х3 -- 4х4 пикс. Так что достоверно можно будет только определить само наличие дефекта (оптической неоднородности поверхности).

[chaus]

Со сканером серьезнее другая проблема - отражения, (подложки же металлические).

Насколько я понял, они как раз керамические.

И если автору нужно не измерять в точности размеры и морфологические особенности дефекта, а просто установить факт его наличия -- зачем все эти заморочки с микроскопами, сканерами и т.п.?

Можно использовать принцип полного внутреннего отражения. Наложить на подложку прозрачную контрольную пластину (стекло, плексиглас и т.п.) с показателем преломления, меньшим, чем у подложки, и наблюдать отражение параллельного пучка света с углом падения, большим угла полного внутреннего отражения для контрольной пластины. От поверхности раздела подложка--пластина в таких условиях заметного отражения не будет, а от места, где на подложке имеется дефект -- будет наблюдаться полное отражение от поверхности контрольной пластины, не контактирующей с подложкой. Т.е. дефект ярко блеснёт на поверхности, и этого будет достаточно для диагностики.

[avor]

Не! Автору нужно забраковать пластину если на ней присутствует дефект определенного размера. Если он меньше подложка не бракуется, я так понял. Если бы браковались пластины с любым обнаруживаемым дефектом можно было бы просто посадить человека даже без лупы. Человек по идее должен различать дефект прядка 0,07 мм с расстояния в 25 см. Ну и все если человек заметил хоть одно пятнышко на репутации пластины ее бракуют. Это занимало бы секунд 5-10 на пластину. А тут явно какие-то более хитрые требования.